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Product catalog
工業(yè)生產邁向精細化與高質量的時代，產品質量把控成為企業(yè)立足市場的關鍵。而膜厚測量儀，憑借其精準高效的特性，已然成為工業(yè)檢測領域中重要的得力助手，在眾多行業(yè)發(fā)揮著重要作用。在制造業(yè)中，膜厚測量儀是品質保障的“守護者”。以汽車制造為例，車身的涂層厚度不僅影響著車輛外觀的美觀度，更直接關系到其防腐蝕性能。若涂層過薄，車身容易受到外界環(huán)境的侵蝕，縮短使用壽命；涂層過厚，則可能導致涂層開裂、脫落，同樣影響車輛質量。膜厚儀能夠快速、準確地測量出車身各部位涂層的厚度，讓生產人員及時發(fā)現并調...
查看全文用二次諧波色散掃描表征超短激光脈沖（本文譯自CharacterizingultrashortlaserpulseswithsecondharmonicdISPersionscans，IvanSytcevich,ChenGuo,SaraMikaelsson,JanVogelsang,Anne-LiseViotti,BenjamínAlonso,RosaRomero,PauloT.Guerreiro,AnneL’Huillier,HelderCrespo,MiguelMirand...
查看全文如何選擇和使用飛秒脈沖測量和壓縮器d-scan系列產品本簡易指南為您提供了關于如何使用飛秒脈沖測量和壓縮器d-scan系列產品及如何選擇型號以匹配您的應用和激光源的指導。我們的產品間的區(qū)別是什么？我們所有的產品都是基于色散掃描技術。每個產品都測量激光的SHG光譜作為色散的函數，并反演激光脈沖的光譜相位。產品之間的主要區(qū)別在于測量類型(掃描或單發(fā))，可以測量的z短/z長脈沖，以及系統是否也可以同時壓縮脈沖。下表總結了我們三個激光應用產品系列之間的主要區(qū)別。對于雙光子顯微鏡應用，...
查看全文隨著激光技術在工業(yè)制造、醫(yī)療健康、科研實驗及光纖通信等領域的廣泛應用，高功率激光功率計作為激光系統中的關鍵測量設備，其重要性日益凸顯。它能夠精確測量激光的功率，為激光系統的優(yōu)化、性能評估及故障診斷提供重要依據。本文將從高功率激光功率計的原理出發(fā)，深入探討其不同類型、應用領域及使用要點。(一)光電型光電型激光功率計探頭是通過光電二極管，直接將光能轉換為電流或電壓信號以表征激光功率的大小。光電二極管傳感器的核心部分是PN結，光電二極管實際上是加了一個反向偏壓的PN結，當反向偏壓足...
查看全文調Q納秒激光器在生物成像領域-光聲成像方面的應用在過去幾十年里，一種被稱為光聲成像（OAI）或光聲成像（PAI）的新型生物醫(yī)學成像模式正從實驗室走向臨床應用。PAI能夠提供結構、血流動力學、功能、氧代謝、基因表達、生物標志物、分子等方面的信息。光聲成像（PAI）是一種新興的成像方式，用于臨床和生物醫(yī)學研究領域。PAI系統使用傳統Q開關的Nd:YAG/OPO（光學參量振蕩器）納秒激光器作為激發(fā)源。這些激光器價格昂貴、體積龐大，脈沖重復率低，成像速度有限。在使用中光聲激發(fā)脈沖的持...
查看全文D7點衍射激光干涉儀用于測量介觀顯微物鏡的檢測方案介觀物鏡，因其具有復雜的光學結構和出色的像差優(yōu)化，可以實現高NA和超大成像FOV，顯著提高光學顯微鏡成像通量的特點而被人們熟知。介觀顯微物鏡可用于廣域成像系統、激光共焦掃描成像系統和雙光子成像等系統，具有重要的研究意義。本文介紹了一種用D7點衍射激光干涉儀測量介觀顯微物鏡的檢測方案，具體方案如下圖所示：1.光源部分1.D7系統的光源為連續(xù)波(CW)單模(SLM)激光器：具有不同波長的相干性，覆蓋了激光器的工作光譜范圍包括:48...
查看全文空間光調制器（SLM）在大規(guī)模可編程量子模擬器中的應用摘要：近年來，量子計算的快速發(fā)展正在為人類揭示復雜量子系統的物理規(guī)律提供的工具?？删幊塘孔幽M器作為量子計算領域的重要成果，為探索量子現象和解決復雜問題提供了新的途徑。空間光調制器（Spatiallightmodulator,SLM）憑借其動態(tài)調控光場相位、振幅和偏振的能力，逐漸成為量子模擬器中的核心元件。SLM主要用于對量子比特進行操控和編碼，為光鑷陣列、冷原子操控以及光子量子態(tài)調控提供了靈活性。什么是大規(guī)?？删幊塘孔幽?..
查看全文相位偏折術/PDM/偏折測量（Deflectometry）技術簡介摘要：偏折測量技術（PDM）又稱為相位偏折術或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測量技術,絕對檢測精度可達10-20nmRMS,可以用于平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等面型的高精度檢測。具有測量角度大、非接觸、精度高、速度快等特點。偏折測量系統構成：相位偏折測量系統主要由ccd相機、LCD顯示屏和待測件三個部分組成，系統配置如下圖。LCD顯示屏投射提前生成好的結構光正弦條紋，正...
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